会议论文《天线罩紧缩场测试系统中馈源天线副瓣影响分析》探讨了馈源天线副瓣对紧缩场测试系统性能的影响。文章分析了副瓣在测试过程中可能引入的误差，提出了优化馈源设计以降低副瓣水平的方法，为提高天线罩测试精度提供了理论依据和技术支持。
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