会议论文《High Precision Far Field Testing System Orientated for ETSI-Class 4 and E-band Microwave Antennas》介绍了为ETSI-Class 4和E波段微波天线设计的高精度远场测试系统。该系统旨在提高天线辐射性能的测量精度，满足现代通信系统对高频率、高带宽天线的要求。论文详细描述了测试系统的结构、工作原理及其实验验证结果，为相关领域的研究和应用提供了重要参考。
文档为pdf格式，1.1MB，总共3页。
举报
