会议论文《复杂及抗辐照标准单元库适用性验证方法研究》针对抗恶劣环境计算机领域，探讨了标准单元库在复杂及辐射环境下的适用性验证方法。该研究提出了有效的验证流程与评估指标，为提升芯片在极端条件下的可靠性提供了理论支持和技术路径。文章通过实验分析，验证了不同标准单元在辐照条件下的性能变化，对推动抗辐照集成电路设计具有重要意义。
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