HIS在降低阵列天线单元间互耦效应中的应用研究 - 2013年全国天线年会.pdf

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2026-1-10 16:23 | 查看全部 阅读模式

会议论文《HIS在降低阵列天线单元间互耦效应中的应用研究》发表于2013年全国天线年会,探讨了高阻抗表面(HIS)在减少阵列天线单元间互耦效应中的应用。文章通过理论分析与实验验证,表明HIS能够有效抑制电磁波的相互干扰,提升天线性能,为高性能阵列天线设计提供了新思路。

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HIS在降低阵列天线单元间互耦效应中的应用研究 - 2013年全国天线年会
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