会议论文《退火温度对BZT薄膜介电性能的影响研究》探讨了不同退火温度对BZT薄膜介电性能的影响。研究通过实验分析发现，退火温度的改变显著影响薄膜的结构和介电特性。适当的退火温度可以优化薄膜的介电常数和介电损耗，提升其在电子器件中的应用潜力。该研究为BZT薄膜的制备与性能调控提供了重要参考。
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