行波管可靠性预计模型研究 - 中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会.pdf

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2026-1-10 15:31 | 查看全部 阅读模式

会议论文《行波管可靠性预计模型研究》由中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会发表。该文针对行波管的可靠性问题,提出了一种基于失效机理的预计模型,旨在提高行波管在实际应用中的稳定性和寿命预测精度。研究结合了实验数据与理论分析,为行波管的设计与优化提供了重要参考。

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行波管可靠性预计模型研究 - 中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会
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