某型号移位寄存器极限评估试验与分析 - 2013‘全国半导体器件技术、产业发展研讨会暨第六届中国微纳电子技术交流与学术研讨会.pdf

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2026-1-10 13:54 | 查看全部阅读模式

会议论文《某型号移位寄存器极限评估试验与分析》针对特定型号的移位寄存器进行了极限条件下的性能测试与分析。文章通过实验数据，探讨了该器件在极端环境下的工作稳定性与可靠性，为半导体器件的优化设计和应用提供了理论依据和技术支持。

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