会议论文《抗辐照存储单元的噪声容限分析与设计优化》针对空间和核辐射环境下的存储单元可靠性问题，提出了一种基于噪声容限的优化设计方法。该研究通过分析不同辐射条件下存储单元的噪声特性，结合电路设计优化，提升了存储器在恶劣环境中的稳定性与抗干扰能力，为高可靠计算机系统提供了理论支持和技术参考。
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