会议论文《嵌入式存储器容错方案可靠性评估》发表于中国电子学会电路与系统学会第二十四届年会，主要探讨了嵌入式存储器在容错设计中的可靠性问题。文章分析了多种容错技术，并通过实验验证了其在提高系统稳定性和故障容忍能力方面的有效性，为相关领域的研究和应用提供了重要参考。
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