基于STM32的光栅尺速度位移检测 - 浙江省电子学会2013年学术年会.pdf

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2026-1-10 12:30 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于STM32的光栅尺速度位移检测》发表于浙江省电子学会2013年学术年会。该文介绍了利用STM32微控制器实现光栅尺信号的采集与处理,通过分析光栅尺输出的脉冲信号,实现对位移和速度的精确检测。系统具有响应快、精度高、抗干扰能力强等优点,适用于工业自动化和精密测量领域。

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基于STM32的光栅尺速度位移检测 - 浙江省电子学会2013年学术年会
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