会议论文《基于IEEE1149.7标准的边界扫描技术研究》探讨了现代集成电路测试与诊断中的一项关键技术。该文分析了IEEE1149.7标准在提高测试效率和降低系统复杂性方面的优势，提出了适用于多芯片系统的边界扫描方案。研究对实际应用中的信号完整性、时序控制等问题进行了深入讨论，为相关领域的工程实践提供了理论支持和技术参考。
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