会议论文《圆柱体磁介质因其横通孔而在圆柱面上显现的磁荷--磁粉探伤原理之五十》探讨了磁粉探伤中圆柱形工件因横通孔而产生的磁荷分布现象。文章分析了磁介质在缺陷处的磁场变化，揭示了磁粉探伤的基本原理，为无损检测技术提供了理论支持，具有重要的工程应用价值。
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