一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法 - 第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13).pdf

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2026-1-10 11:10 | 查看全部 阅读模式

会议论文《一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法》提出了一种针对BIST测试激励的高效压缩方法。该方法通过聚类分析和移位操作,减少测试数据量,提高测试效率。研究在第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13)上发表,为集成电路测试领域提供了新的思路和技术支持。

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一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法 - 第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13)
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