一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法 - 第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13).pdf

会议论文《一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法》提出了一种针对BIST测试激励的高效压缩方法。该方法通过聚类分析和移位操作，减少测试数据量，提高测试效率。研究在第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13)上发表，为集成电路测试领域提供了新的思路和技术支持。

文档为pdf格式，0.27MB，总共5页。

一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法 - 第十五届全国容错计算学术会议(CFTC13).pdf

文件大小:

276.48 KB

高速下载