会议论文《GA-BP神经网络模型在电子元器件非工作可靠性中的应用》探讨了将遗传算法优化的BP神经网络应用于电子元器件非工作可靠性的评估中。该研究通过结合遗传算法的全局搜索能力和BP神经网络的非线性拟合优势，提高了可靠性预测的准确性。论文在2013工业与信息化产品环境技术研讨会上发表，为电子产品的可靠性分析提供了新的方法和技术支持。
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