连接器镀层孔隙率检验方法研究 - 第一届电接插元件(连接器、开关、组件)及相关产业技术研讨会暨中电元协电接插元件分会第一次专家团会议.pdf

11 0

2026-1-10 10:01 | 查看全部阅读模式

会议论文《连接器镀层孔隙率检验方法研究》探讨了连接器镀层孔隙率的检测技术，旨在提高电接插元件的可靠性与耐久性。该文通过实验分析不同检验方法的适用性与准确性，为行业提供了科学依据和技术支持。论文发表于第一届电接插元件及相关产业技术研讨会，反映了当前电接插元件领域的技术热点与发展方向。

文档为pdf格式，1.16MB，总共5页。