高性能Ag-4Pd合金線電遷移破壞研究 - 2014年海峡两岸破坏科学与材料试验学术会议暨第十二届破坏科学研讨会、第十届全国MTS材料试验学术会议.pdf

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2026-1-10 09:33 | 查看全部阅读模式

会议论文《高性能Ag-4Pd合金線電遷移破壞研究》探讨了Ag-4Pd合金在电迁移作用下的破坏机制。该研究通过实验分析，评估了合金在高电流密度下的稳定性与可靠性，为微电子封装材料提供了重要参考。论文发表于2014年海峡两岸破坏科学与材料试验学术会议，对提升半导体器件寿命具有重要意义。

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