会议论文《静电引起的封装体内的火花放电现象研究》发表于第一届全国辐射物理学术交流会(CRPS`2014)。该文探讨了静电放电在电子封装体内引发火花放电的机制与影响因素，分析了其对电子设备安全性和可靠性可能造成的威胁。研究结果为提高电子器件抗静电能力提供了理论依据和技术参考。
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