会议论文《基于ANSYS的双余度线位移传感器疲劳寿命研究》发表于2014ANSYS中国技术大会,主要探讨了利用ANSYS软件对双余度线位移传感器进行疲劳寿命分析的方法。文章通过有限元仿真,评估了传感器在复杂工况下的结构可靠性与使用寿命,为提高传感器的稳定性和耐用性提供了理论依据和技术支持。
文档为pdf格式,0.24MB,总共5页。
举报