会议论文《双栅结构对非晶铟镓锌氧薄膜晶体管电学性能的改进》探讨了双栅结构在非晶铟镓锌氧(a-IGZO)薄膜晶体管中的应用。研究结果表明,双栅结构能够有效提升器件的电学性能,包括改善阈值电压稳定性、降低漏电流以及提高场效应迁移率。该成果为高性能柔性显示器件的开发提供了新的思路和技术支持。
文档为pdf格式,1.05MB,总共3页。
举报