功率MOSFET栅电荷分析及测试方法 - 2014`全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会暨第七届中国微纳电子技术交流与学术研讨会.pdf

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2026-1-10 03:04 | 查看全部阅读模式

会议论文《功率MOSFET栅电荷分析及测试方法》探讨了功率MOSFET器件中栅电荷的特性及其对开关性能的影响。文章介绍了栅电荷的定义、测量原理及测试方法，为优化功率器件设计和提高系统效率提供了理论依据和技术支持。该文发表于2014年全国半导体器件产业发展研讨会，旨在推动半导体技术的创新与应用。

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