一种面向多刀片插箱的高效并发边界扫描机制 - 第十八届计算机工程与工艺年会暨第四届微处理器技术论坛.pdf

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2026-1-10 02:05 | 查看全部阅读模式

会议论文《一种面向多刀片插箱的高效并发边界扫描机制》提出了一种优化的边界扫描技术，用于提高多刀片插箱系统的测试效率。该方法通过并发执行边界扫描操作，减少测试时间，提升系统可靠性。研究针对多处理器环境下的测试需求，设计了高效的通信与同步机制，有效解决了传统方法在并发性方面的不足。

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