会议论文《HIRF辐射敏感度测试方法浅述》探讨了高频干扰（HIRF）对电子设备的影响及相应的测试方法。文章介绍了HIRF的基本特性、测试标准以及实际应用中的测试流程，旨在提高电子系统的抗干扰能力。该论文发表于四川省电子学会曙光分会第十七届学术年会暨中物院第十届电子技术青年学术交流会，为相关领域的研究和工程实践提供了参考依据。
文档为pdf格式，1.18MB，总共5页。
举报
