本文提出一种基于数字全息术的测量方法,用于获取长周期光纤光栅的二维折射率分布。通过数字全息技术,实现对光纤光栅内部结构的非接触式、高精度测量。该方法能够有效提取光栅的折射率变化信息,为光纤光栅的性能分析和优化设计提供重要依据。
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