辉光放电发射光谱中一种新的深度分析校正模式及其应用 - 2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012).pdf

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2025-12-14 20:18 | 查看全部 阅读模式

该论文介绍了在辉光放电发射光谱分析中提出的一种新的深度分析校正模式。该方法通过改进传统校正方法,提高了元素深度分布的准确性和可靠性。文章详细阐述了该校正模式的原理与实现过程,并将其应用于实际材料分析中,验证了其有效性。研究成果为材料成分深度分析提供了新的技术手段,具有重要的应用价值。

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辉光放电发射光谱中一种新的深度分析校正模式及其应用 - 2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
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