质子在固体中的多次散射对PBS法分析Ti、Zr膜中D、T的影响 - 第八届(2012)北京核学会核应用技术学术交流会.pdf

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该论文探讨了质子在固体中的多次散射对PBS法分析Ti、Zr膜中D、T的影响。通过实验和理论分析，研究发现多次散射会显著影响检测精度，尤其在低浓度情况下更为明显。文章提出了修正方法以提高分析准确性，为核应用技术中的同位素分析提供了重要参考。

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质子在固体中的多次散射对PBS法分析Ti、Zr膜中D、T的影响 - 第八届(2012)北京核学会核应用技术学术交流会

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