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本文研究了薄膜厚度对Y掺杂Ba0.6Sr0.4TiO3薄膜结构及介电性能的影响。通过调节薄膜厚度，发现其对晶体结构和介电常数有显著影响。随着厚度变化，薄膜的晶粒尺寸和取向发生改变，进而影响介电性能。实验结果表明，适当厚度的薄膜具有较高的介电常数和较低的损耗，为高性能电容器应用提供了理论依据。 文档为pdf格式，0.68MB，总共3页。
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- 薄膜厚度对Y掺杂Ba0.6Sr0.4TiO3薄膜结构及介电性能的影响 - 第十七届全国高技术陶瓷学术年会.pdf ...
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