该论文研究了缓冲层对BST薄膜结构及性能的影响,通过实验分析不同缓冲层对薄膜结晶质量、介电性能和微观结构的影响。结果表明,合适的缓冲层可以显著改善BST薄膜的性能,提高其介电常数和介电损耗特性。该研究为BST薄膜在高密度集成器件中的应用提供了理论支持和技术参考。
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