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论文《粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素》介绍了利用粉末压片技术结合X射线荧光光谱法对氧化铝中杂质元素进行快速、准确分析的方法。该方法具有操作简便、检测限低、重复性好等优点，适用于工业生产中的质量控制。文章在帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会上发表，为相关领域的研究和应用提供了重要参考。 文档为pdf格式，0.27MB，总共6页。
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- 粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素 - 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会.pdf ...
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