本文介绍了利用熔片X射线荧光光谱法测定萤石矿选冶试验样品的方法。通过熔片技术制备样品,提高了分析的准确性和重复性。研究针对萤石矿中主要成分及杂质元素进行分析,验证了该方法的可行性与适用性,为萤石矿选冶试验提供了可靠的数据支持。
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