曙光6000全局集合通信芯片的可测试性设计与实现 - 2012全国高性能计算学术年会.pdf

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论文《曙光6000全局集合通信芯片的可测试性设计与实现》介绍了曙光6000超级计算机中全局集合通信芯片的可测试性设计方法。文章提出了一套有效的测试策略,以提高芯片的故障检测能力和测试效率。通过引入自测试结构和优化测试路径,实现了对芯片功能的全面验证,为高性能计算系统的可靠运行提供了保障。

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曙光6000全局集合通信芯片的可测试性设计与实现 - 2012全国高性能计算学术年会
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