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该论文探讨了应用于芯片ESD保护的低压触发SCR结构参数对维持电压的影响。通过分析不同结构参数，如掺杂浓度、沟道长度等，研究其对维持电压的作用机制。结果表明，优化这些参数可有效降低维持电压，提升ESD保护性能。论文为设计高性能、低功耗的ESD防护电路提供了理论依据和技术参考。 文档为pdf格式，0.62MB，总共3页。
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- 应用于芯片ESD的低压触发SCR结构参数对其维持电压的影响 - 四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度 ...
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