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论文《墓于辐射回避的SRAM型FPGA瞬时电离辐射效应测试系统研制》介绍了针对SRAM型FPGA在电离辐射环境下的瞬时效应进行测试的系统设计。该系统通过辐射回避技术，有效减少辐射对测试结果的干扰，提高测试精度与可靠性。研究为FPGA在高辐射环境中的应用提供了重要支持。 文档为pdf格式，0.29MB，总共4页。
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- 墓于辐射回避的SRAM型FPGA瞬时电离辐射效应测试系统研制 - 第八届(2012)北京核学会核应用技术学术交流会.pd ...
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