基于边界斜率预测的形态学反走样方法 - 第九届中国计算机图形学大会(Chinagraph‘2012).pdf

论文《基于边界斜率预测的形态学反走样方法》提出了一种新的反走样技术，通过分析图像边界处的斜率变化来优化边缘像素的处理。该方法在第九届中国计算机图形学大会(Chinagraph‘2012)上发表，旨在提高图形渲染质量，减少锯齿现象，提升视觉效果。

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2025-12-14 16:59 上传 基于边界斜率预测的形态学反走样方法 - 第九届中国计算机图形学大会(Chinagraph‘2012).pdf

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