|
本文介绍了基于LBIST与JTAG结合的流水线测试结构设计，旨在提高芯片测试效率和覆盖率。通过将LBIST自动生成测试模式的功能与JTAG接口相结合，实现了对流水线结构的高效测试。该方法有效降低了测试成本，提高了故障检测能力，为复杂集成电路的测试提供了新思路。 ","role":"assistant文档为pdf格式，0.33MB，总共5页。
- 文件大小:
- 337.92 KB
- 下载次数:
- 60
- 基于LBIST与JTAG结合的流水线测试结构设计 - 第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛.pdf ...
-
高速下载
| 
