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论文《基于LabVIEW的半导体器件检测系统设计》介绍了利用LabVIEW平台开发半导体器件检测系统的方案。该系统通过图形化编程实现对半导体参数的自动测试与分析，提高了检测效率和准确性。文章详细阐述了系统结构、功能模块及其实现方法，展示了LabVIEW在仪器控制和数据处理方面的优势，为半导体测试技术提供了新的思路。 文档为pdf格式，0.74MB，总共4页。
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- 基于LabVIEW的半导体器件检测系统设计 - 2012年三网融合技术国际研讨会.pdf
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