基于CMOS激光位移传感器的板厚测量系统 - 2012年西南三省一市自动化与仪器仪表学术年会.pdf

论文《基于CMOS激光位移传感器的板厚测量系统》介绍了利用CMOS激光位移传感器实现板厚测量的方法。该系统通过高精度激光测距技术，提高了测量的准确性和稳定性。研究针对自动化与仪器仪表领域的需求，提出了适用于工业环境的测量方案，具有良好的应用前景。

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2025-12-14 16:30 上传 基于CMOS激光位移传感器的板厚测量系统 - 2012年西南三省一市自动化与仪器仪表学术年会.pdf

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