吸附温度低于273K的Pd_k柱TCAP全回流实验研究 - 第八届(2012)北京核学会核应用技术学术交流会.pdf

论文《吸附温度低于273K的Pd_k柱TCAP全回流实验研究》探讨了在低温条件下钯基柱对氚化氢的吸附性能。通过全回流实验，分析了温度对吸附效率的影响，为核聚变中氚的回收与利用提供了理论依据和技术支持。研究结果对提高氚的分离效率具有重要意义。

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2025-12-14 16:16 上传 吸附温度低于273K的Pd_k柱TCAP全回流实验研究 - 第八届(2012)北京核学会核应用技术学术交流会.pdf

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