论文《半导体器件寿命计算》发表于浙江省电子学会2012学术年会，主要探讨了半导体器件在不同工作条件下的寿命预测方法。文章分析了影响器件寿命的关键因素，如温度、电压和工作环境等，并提出了相应的寿命计算模型。该研究对提高电子设备的可靠性具有重要意义，为半导体器件的设计与应用提供了理论支持。
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