论文《单片机系统脉冲γ辐射效应研究》探讨了脉冲γ辐射对单片机系统的影响,分析了辐射环境下系统的可靠性与稳定性。通过实验和理论分析,研究了不同剂量率和能量下的辐射效应,提出了相应的抗辐射设计方法。该研究为核辐射环境下的电子系统设计提供了重要参考,具有实际应用价值。
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