一种基于32位ARM微控制器电路的辐射效应研究 - 全国信息与电子工程第五届学术年会暨四川省电子学会曙光分会第十六届学术年会.pdf

该论文研究了基于32位ARM微控制器电路在辐射环境下的效应。通过实验分析了辐射对电路性能的影响，探讨了可能的故障机制及防护措施。研究结果对提高电子设备在高辐射环境下的可靠性具有重要意义，为相关领域的工程应用提供了理论支持。

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2025-12-14 15:05 上传 一种基于32位ARM微控制器电路的辐射效应研究 - 全国信息与电子工程第五届学术年会暨四川省电子学会曙光分会第十六届学术年会.pdf

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