一种OTP存储器冗余测试电路的设计与实现 - 四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度学术年会.pdf

该论文介绍了OTP存储器冗余测试电路的设计与实现，旨在提高存储器的可靠性和良率。通过引入冗余单元和测试机制，有效检测并纠正存储单元中的缺陷。文章详细阐述了电路结构、工作原理及测试方法，为OTP存储器的测试技术提供了新的思路和解决方案。

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2025-12-14 15:04 上传 一种OTP存储器冗余测试电路的设计与实现 - 四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度学术年会.pdf

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