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YHFT-DX测试芯片的FPGA仿真与测试 - 全国抗恶劣环境计算机第二十二届学术年会.pdf

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2025-12-14 15:01 | 查看全部阅读模式

论文《YHFT-DX测试芯片的FPGA仿真与测试》介绍了基于FPGA的YHFT-DX测试芯片仿真与测试方法。通过FPGA技术实现了对芯片功能的验证与性能评估，提高了测试效率和准确性。该研究为抗恶劣环境计算机的设计与优化提供了重要参考，具有实际应用价值。

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YHFT-DX测试芯片的FPGA仿真与测试 - 全国抗恶劣环境计算机第二十二届学术年会

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