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X-荧光光谱仪测角仪2θ角校正及漂移校正程序的建立 - 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会.pdf

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2025-12-14 15:00 | 查看全部阅读模式

论文《X-荧光光谱仪测角仪2θ角校正及漂移校正程序的建立》介绍了如何通过建立校正程序提高X-荧光光谱仪测角仪的测量精度。文章详细描述了2θ角的校正方法，并针对仪器在使用过程中可能出现的漂移问题提出了有效的校正策略，为提高分析结果的准确性和稳定性提供了技术支持。

文档为pdf格式，0.65MB，总共4页。

X-荧光光谱仪测角仪2θ角校正及漂移校正程序的建立 - 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会

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