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论文《X射线荧光光谱法测定硅石中化学成分》发表于2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)。该文介绍了利用X射线荧光光谱法对硅石中的主要化学成分进行快速、准确的测定方法。通过实验验证，该方法具有操作简便、分析速度快、精度高等优点，适用于硅石样品的常规分析与质量控制。 文档为pdf格式，0.27MB，总共5页。
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