GD11-012子孔径拼接检测浅度非球面的研究 - 第10届全国光电技术学术交流会.pdf

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2025-12-14 14:41 | 查看全部阅读模式

论文《GD11-012子孔径拼接检测浅度非球面的研究》在第10届全国光电技术学术交流会上发表，探讨了利用子孔径拼接技术对浅度非球面进行高精度检测的方法。该研究针对非球面测量中的难点，提出了一种有效的拼接算法，提高了检测的准确性和效率，为光学元件制造提供了重要技术支持。

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GD11-012子孔径拼接检测浅度非球面的研究 - 第10届全国光电技术学术交流会

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