GD08-013CCD芯片量子效率的测量装置及其测量方法 - 第10届全国光电技术学术交流会.pdf

论文《GD08-013CCD芯片量子效率的测量装置及其测量方法》介绍了用于测量CCD芯片量子效率的实验装置和方法。该方法通过标准光源和光谱分析系统，结合精确的光电转换测量技术，实现了对CCD芯片在不同波长下的量子效率的准确测定。研究为提高CCD器件性能评估提供了可靠的技术支持。

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2025-12-14 14:41 上传 GD08-013CCD芯片量子效率的测量装置及其测量方法 - 第10届全国光电技术学术交流会.pdf

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