FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法研究 - 第八届(2012)北京核学会核应用技术学术交流会.pdf

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论文《FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法研究》探讨了利用脉冲激光模拟单粒子效应的方法，以评估FPGA器件的抗辐射性能。通过实验分析了不同激光参数对FPGA的影响，验证了该方法的可行性与有效性，为提高FPGA在高辐射环境下的可靠性提供了理论依据和技术支持。

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FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法研究 - 第八届(2012)北京核学会核应用技术学术交流会

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