阿伏加德罗常数项目中的硅球表面层测量新进展 - 中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会.pdf

论文《阿伏加德罗常数项目中的硅球表面层测量新进展》介绍了在阿伏加德罗常数测定中，硅球表面层测量技术的最新发展。通过高精度的光学和电子显微技术，研究人员提高了对硅球表面层厚度的测量精度，为实现更准确的阿伏加德罗常数确定提供了重要支持。该研究对于推动国际单位制的重新定义具有重要意义。

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2025-12-14 10:12 上传 阿伏加德罗常数项目中的硅球表面层测量新进展 - 中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会.pdf

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