论文《芯级抗扰度测试方法的研究与比较》探讨了电子设备在电磁干扰环境下的抗扰度测试方法。文章分析了不同测试标准和方法的优缺点，提出了适用于芯级器件的优化测试方案。通过实验对比，验证了所提方法的有效性和可靠性，为提升电子系统电磁兼容性能提供了理论支持和技术参考。
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