考虑多失效机理的电子产品寿命预测方法初探 - 2011年振动与噪声测试峰会.pdf

该论文探讨了考虑多失效机理的电子产品寿命预测方法，针对电子设备在复杂工作环境下可能发生的多种失效模式进行了分析。通过结合可靠性理论与实际测试数据，提出了一种更为准确的寿命预测模型，旨在提高电子产品寿命评估的科学性与实用性。研究为电子产品的可靠性设计与维护提供了理论支持。

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2025-12-14 08:59 上传 考虑多失效机理的电子产品寿命预测方法初探 - 2011年振动与噪声测试峰会.pdf

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